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配置要求：
1.全自動倒置熒光顯微鏡1臺
2.電動DIC組件1套
3.共聚焦掃描單元 1套
4.激光器1套
5.檢測器3個
6.分析軟件1套（含拼圖、三維圖像獲取、時間序列成像、最大灰度值投影成像等功能）
7.電腦工作站 1套
8.防震臺 1張
主要技術參數(shù)：
技術參數(shù)
激光器部分
1.1激光器：采用單模保偏光纖，典型動態(tài)范圍 10000:1；直接調(diào)制 500:1
－ 固態(tài)激光器405nm：額定功率15mW，光纖外層光功率5mW；
－ 固態(tài)激光器488nm：額定功率25mW，光纖外層光功率10mW；
－ 固態(tài)激光器561nm：額定功率25mW，光纖外層光功率10mW；
－ 固態(tài)激光器640nm：額定功率15mW，光纖外層光功率5mW；
1.2軟件可以直接調(diào)節(jié)所有激光器開關以及強度，并具有實驗中未使用自動進入關閉狀態(tài)（Switch off）功能。
掃描模塊
2.1掃描器與顯微鏡一體化設計，一體化像差及色差校正。所有掃描器組件都直接耦合，無光纖連接。
2.2共聚焦針孔采用復消色差校正，適合短波長（如 405 nm）激光成像，自動對齊；調(diào)節(jié)范圍0.0到>10AU（Airy Unit）。
2.3檢測器數(shù)量：熒光檢測器3個，透射光檢測器1個。
2.4熒光檢測器類型： 熒光檢測器全部為光譜型檢測器，檢測范圍調(diào)節(jié)精度≤1nm。
★2.5主分光鏡：采用≤10°小角度入射技術，提供更高的激光壓制效率，背景激光壓制效率≥99.9999%（OD值≥6）。
★2.6光譜分光：利用可變二次分色鏡分光，從450 nm到650 nm分光精度≤1nm。
2.7 X、Y軸獨立的檢流計（Galvo）雙掃描鏡，采用超快線掃及幀飛回技術。
2.8掃描頭絕對線性掃描運動，保證激光在每個點駐留時間相同，保證定量實驗結果的準確性，回轉(zhuǎn)時間短，>85%的幀時間（frame time）有效地用于圖像采樣。
2.9掃描方式：xy，xyz，xyt，xyzt，xz，xt，xzt， xl，xyl，xyzl，xytl，xyztl，xzl，xtl，xztl，直線掃描，剪切掃描、旋轉(zhuǎn)掃描及變倍掃描。
★2.10在所有成像模式下，均可以進行360°任意旋轉(zhuǎn)掃描線的方向，同時可以變倍以及在XY方向移動掃描區(qū)域。旋轉(zhuǎn)、變倍、移動中心均可以實時（掃描過程中）進行。
★2.11掃描光學變倍：在所有成像模式下，最小變倍掃描系數(shù)為0.45x，變倍范圍都包括0.45 x– 40x，連續(xù)調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)精度0.1x。
★2.12最大掃描分辨率≥6144 x 6144。
2.13在常規(guī)線性掃描模式下，可同時滿足以下掃描速度指標：8幅/秒（512x512像素，16位）；64幅/秒（512x64像素，16位）；250幅/秒（512x16像素，16位）。
2.14一次實驗中單次掃描可以實現(xiàn)三個熒光檢測通道同時成像，如果一次實驗設置分次掃描，分次掃描次數(shù)不限。
★2.15光譜掃描（Lambda成像）：兩個檢測器平行掃描完成光譜成像，掃描過程無熒光信號損失；最小光譜檢測范圍（光譜分辨率）≤1nm；可根據(jù)結果做線性光譜拆分，去除自發(fā)熒光及熒光串擾。
★2.16中間像平面視野 ≥20mm。
2.17透射光檢測器：用于明場或DIC等非共聚焦圖像的檢測通道，自動切換透射光照明及透射光成像。
2.18具有實時電子組件：控制顯微鏡、激光器、掃描模塊和其他附件；通過實時電路進行數(shù)據(jù)采集和同步管理；過量采樣讀取邏輯電路，用以獲得最佳靈敏度；數(shù)據(jù)在實時電路與用戶計算機之間通過 LVDS 進行交換，在采集圖像的同時可進行數(shù)據(jù)在線分析。
顯微鏡主機
3.1研究型全自動正置顯微鏡，復消色差光路設計。
3.2顯微鏡內(nèi)置電動調(diào)焦驅(qū)動馬達，最小步進10 nm。
3.3配置全電動掃描臺，行程130 mm x 85 mm，精度 0.1 μm，最大速度 25 mm/s，具有獨立的控制器及操控手柄。
3.4顯微鏡透射光源： LED光源。
3.5熒光附件：復消色差熒光光路，六位電動濾色鏡轉(zhuǎn)盤，電動光閘，含UV、B、G激發(fā)濾色鏡組件和長壽命熒光光源。
3.6全套微分干涉部件（DIC），有與不同數(shù)值孔徑的物鏡一一對應的棱鏡。
3.7多功能長工作距離電動聚光鏡，NA為0.55。
3.8目鏡一對：10X，視場數(shù)23。
3.9 6孔位電動物鏡轉(zhuǎn)盤，具有自動識別功能。
3.10物鏡：
10x干鏡，數(shù)值孔徑0.45；
20x干鏡，數(shù)值孔徑0.8；
40x干鏡，數(shù)值孔徑0.95 ；
63x油鏡，數(shù)值孔徑1.4；工作距離190 μm。
3.11通過TFT電子觸控屏系統(tǒng)控制顯微鏡并顯示工作狀態(tài)，TFT觸摸屏可以遠離顯微鏡機身實現(xiàn)遠程控制。
3.12配有專業(yè)共聚焦顯微鏡系統(tǒng)防震裝置。
軟件部分及圖像工作站
4.1智能化光路設置：通過選擇樣品的染料標記，提供3種光路配置模式，一鍵自動設置所有的光路。
4.2自動預掃描功能，可以自動、快速設定掃描參數(shù)，減少熒光淬滅。
4.3自動聚焦，可以實現(xiàn)自動尋找樣品焦平面的功能。
4.4多維獲取圖像獲?。喊ǘ嗤ǖ罒晒狻?/span>Z軸序列掃描、時間序列掃描、區(qū)域掃描、旋轉(zhuǎn)掃描、變倍掃描、光譜掃描、多點掃描和大視野拼圖掃描等。
4.5 Z軸深度補償功能，自動補償由于樣品深度增加造成的信號衰減。
4.6交互式漂白，在進行圖像采集的同時（包括連續(xù)掃描和時間序列實驗），通過鼠標點擊對指定任意區(qū)域進行漂白。適用于主動光活化實驗、光轉(zhuǎn)化實驗或者快速光漂白實驗等。
4.7 REUSE功能：它可以再次調(diào)用存儲在每張圖像里的所有的拍照參數(shù)來重現(xiàn)實驗。
4.8可以根據(jù)用戶的需要和應用由ZEN軟件存儲特定用戶的工作空間設置。
4.9可以通過ZEN軟件實驗管理器存儲和加載不同實驗的設置。
4.10 圖像分析功能：用各個參數(shù)做共定位和直方圖分析，任意線的序列測量，長度、角度、表面、強度等的測量。
4.11圖像操作：加減乘除、比例、位移、濾波（低通濾波、中值濾波、高通濾波）
4.12三維圖像渲染與重構：多種圖像渲染與顯示模式，包括但不限于最大、透明化、正交、投影等。
4.13自動圖像分析模塊：可以根據(jù)要求編輯測量程序，批量進行圖像分析。
4.14多位點及大視野拼圖成像：可對任意形狀的預設區(qū)域進行拼圖掃描以及根據(jù)位點列表進行多點成像，支持聚焦校正地圖、拼接以及陰影校正；支持自定義多孔板及各種樣品載具規(guī)格，多種模式設定獲取圖像的多個位點。
4.15高級三維圖像處理：3D和4D圖像的渲染及分析，有四種渲染方式（陰影、透明、表面、及最大強度投影）并可進行不同渲染方式的結合（如透明結合表面渲染）；可做Z軸顏色編碼視圖及浮雕立體視圖；可實現(xiàn)三維空間的距離和角度測量。
4.16硬件配置不低于以下要求：≥4核處理器，主頻≥3.8GHz；≥512G SSD高速硬盤以及≥2個4TB SATA 7200 rpm硬盤，≧64GB內(nèi)存，DVD刻錄設備，≥32英寸液晶顯示器，分辨率≥2560×1600；Windows 10操作系統(tǒng)。
★4.17為確保售后服務及貨物質(zhì)量，所投產(chǎn)品若為進口產(chǎn)品，需提供廠家或總代理針對本項目的授權書和售后服務承諾函原件（廠家或總代理直接投標，無需授權）。
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